品牌：美国FEI

型号：Talos F200X

配置：

1）电子枪类型：超亮电子枪

2）TEM信息分辨率：0.12nm

3）STEM分辨率：0.16nm

4) 探头：BF/DF2/DF4/HAADF 4个探测器，能够同时采集和显示来自不同角度的电子信号成像

5）能谱仪 (EDS)：四探头，可进行快速点、线、面扫描等分析

6）CMOS相机：1600万像素

主要应用：材料的高分辨形貌观察、微区的晶体结构分析和成分分析。可用于观察高分辨像、形貌像、衍射谱及明暗场像，进行材料的结构分析，材料的微区成分分析，可对微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布进行分析。适用范围广，除磁性材料、挥发性有机材料之外的所有材料均适用。