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学校新近购置的高分辨场发射透射电子显微镜设备已安装调试完成，现面向校内开放使用，欢迎广大师生前来咨询、测试。

性能指标及应用范围

1.高分辨场发射透射电子显微镜( FEI Talox  F200X ）

性能指标：

1) 电子枪类型：超亮电子枪

2）TEM信息分辨率：0.12nm

3）STEM分辨率：0.16nm

4) 探头：BF/DF2/DF4/HAADF 4个探测器，能够同时采集和显示来自不同角度的电子信号成像

5）超级能谱仪 (EDS)：四探头，可进行快速点、线、面扫描等分析

6）CMOS相机：1600万像素

应用范围：材料的高分辨形貌观察、微区的晶体结构分析和成分分析。可用于观察高分辨像、形貌像、选区衍射及明暗场像，进行材料的结构分析。配合能谱仪进行材料的微区成分分析，得到微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布情况。适用范围广，除磁性材料，挥发性有机材料之外的所有材料均适用

地点：南通大学主校区19号楼东侧121室

联系电话：85012955 85012965

南通大学分析测试中心

2020.07.01

透射价格.xlsx